결함 밀도 기반 수율 예측기

반도체 칩 면적과 공정 결함 밀도($D_0$)를 바탕으로 이론적 수율을 시뮬레이션합니다.

칩 면적 (Die Area, cm²)

결함 밀도 (Defect Density, D₀ /cm²)

Poisson 0%

가장 보수적인 모델 (임의 분포)

Murphy 0%

삼각 분포 가정 (중도적)

Seeds 0%

결함 클러스터링 고려

면적이 넓은 고성능 칩일수록 결함 밀도($D_0$) 관리가 수율에 치명적인 영향을 미칩니다. PI 그룹에서는 이를 극복하기 위해 **Redundancy 설계**나 **결함 클러스터링 최적화**를 검토해야 합니다.